產品介紹
相變溫度分析儀 PCA 是根據材料相變前后光學性質(反射光功率)有較大差異的特性,在程序控溫下,使用一束恒定功率的激光照射樣品表面,記錄反射光功率變化,形成反射光功率與溫度變化曲線,從而確定相變溫度。
應用功能
各種材料相變溫度(融化、軟化、晶化等)的實時測定;
新型材料(相變材料、相變儲能材料)的穩定性測試及性能優化;
新型相變機理(晶化溫度的尺寸效應、材料的結晶動力學過程等)研究;
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應用材料
NiAl 復合薄膜 | GeTe 薄膜 | Ni-Mn-Ga 薄膜 | SiC 薄膜 |
Al2O3薄膜 | TiN 薄膜 | PZT 鐵電材料 | 摻 Ti 的 ZnSb 薄膜 |
金屬 Co 薄膜 | 形變記憶合金材料 | 二氧化釩薄膜 | ZrO2 薄膜 |
GST 相變存儲薄膜 | MgO薄膜 | 顯示屏玻璃 | …… |
產品特點
采用具有專利技術的光學系統檢測原理,配有高性能的加熱及控制系統和人性化的送樣組件,儀器性能優越;
不僅可以檢測多種塊體材料,還可以檢測各種薄膜樣品,為客戶對材料的研究提供更大的便利和支持;
無損檢測,不破壞樣品,節約成本;
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